Les techniques de surface (XPS, AES) sont couramment utilisées pour l'analyse élémentaire qualitative et quantitative des matériaux: de plus, elles sont des outils puissants pour informer sur la liaison chimique des éléments. Dans le cas de la microsonde Auger, le faisceau incident d'électrons focalisés de limite inférieure de 200 nm, balaye la surface de l'échantillon et le signal récolté permet d'établir des " cartes élémentaires " de la surface et de localiser ainsi les différentes hétérogénéités. Les figures ci-dessus concernent la caractérisation d'un échantillon d'acier martensitique de nuance Z20C13 préalablement poli à un micron.L'imagerie Auger sélective du carbone, du chrome et du fer réalisée sur une surface de 60 µm au carré révélée inhomogène par le contraste d'image d'électrons secondaires (SEM), traduit bien la distribution des précipités de carbure de chrome dont les spectres ponctuels AES confirment l'existence et les spectres XPS la nature des liaisons chimiques.
Cartographie AES d'un acier martensitique - Z20C13 -
Profil d'érosion d'un acier martensitique.
Par ailleurs, il est aisé d'établir des profils de concentrations élémentaires et chimiques des couches de surface par l'utilisation du décapage par bombardement ionique d'argon couplé avec les techniques XPS ou AES. Cette méthode permet ainsi d'approcher quantitativement l'épaisseur de la couche de surface d'un matériau et donc de ses propriétés de surface comme cela est montré ci-joint avec les quatre profils (carbone, oxygène, chrome et fer) de la couche de passivation de l'acier martensitique Z20C13.
next
Caractérisation Fine de Surface par Spectroscopie de Photoélectrons X (XPS) et Spectroscopie d'électrons Auger (AES) - Imagerie Auger.